東芝は、製造現場の画像を活用した検査向けに、製品不良や欠陥を高精度に分類できる「教師なし画像分類ＡＩ（人工知能）」を開発したと発表した。分類精度を従来の３０％弱から８０％超に向上した。特に半導体など複雑な製品パターンの検査で有効と見ており、品質改善に向けた分析工程の効率化を支援していく。製造業の検査では、画像を分類することで不良や欠陥の発生状況を…