日本NI、半導体自動テストシステム 集積回路複雑化に対応

 日本ナショナルインスツルメンツ(池田亮太社長、東京都港区)は、高周波回路やデジタルとアナログが混在する回路の半導体製造試験に対応した自動テストシステム「STS」を発売したと発表した。特性評価や設計検証のコスト低減に貢献する。 モジュール式...

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