絶縁破壊によって形成された伝導パスの可視化に成功
東京大学物性研究所の藤原弘和特任研究員らの研究グループは、東大生産技術研究所、東大大学院工学系研究科附属システムデザイン研究センターと共同で、通信機器や計測機器などに使用される不揮発メモリー「ＦｅＲＡＭ」が壊れる瞬間を可視化する手法を世界...
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