日本ナショナルインスツルメンツ（池田亮太社長、東京都港区）は、ＰＸＩ・ソースメジャーユニット（ＳＭＵ）のラインアップを拡充し、半導体の自動テストにも対応できるようになったと発表した。新製品「ＮＩ　ＰＸＩｅ―４１４３ＳＭＵ」は、複数ピンの半導体デバイスの並列テストに最適で、６０万サンプル／秒のサンプリングが可能なチャンネルを四つ備え、高速過渡応答も…